专利成果

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一种可调制带隙宽度的Fe-Si-Al系三元非晶薄膜及其制备方法(专利号:201310016601.7)
2015-03-30 16:59  
专利号: 201310016601.7
申请日: 2013/1/17
授权公告日: 2014/10/22
专利权人: 大连理工大学
发明人: 李晓娜;郑月红;董闯

摘要:
    一种可调制带隙宽度的Fe-Si-Al三元非晶薄膜及其制备方法,属半导体材料技术领域。此薄膜材料具有如下通式:Fe(1-x-y)SixAly,其中:50at.%≤x≤70?at.%,1at.%?≤y≤11at.%,当(x+y)的总量从60?at.%到75?at.%变化时,薄膜的带隙宽度可以从0.45?eV调制到0.65eV,结构均为非晶态。该薄膜有如下优点:①Fe(1-x-y)SixAly薄膜是三元半导体非晶薄膜,可从0.45eV到0.65eV较大范围内调制带隙宽度,Al的作用不单可以影响带隙宽度,而且增加一个组元薄膜的非晶形成能力也会增加;②只要改变组合溅射靶中Fe4Alz合金片的个数和z值,即可方便地调整薄膜中(Si+Al)的总量,进而获得不同带隙宽度;③薄膜保持非晶态,能够保证成分和性能均匀,有效回避晶态薄膜制备中的晶格失配以及多相混杂等问题。适宜制造近红外探测器等窄带隙半导体器件。
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