| 专利号： |
201110324352.9 |
| 申请日： |
2011/10/24 |
| 授权公告日： |
2013/6/5 |
| 专利权人： |
大连理工大学 |
| 发明人： |
李雪花;周艺蓉;陈景文 |
摘要：
一种测定挥发性有机化合物在碳纳米管颗粒(CNTs)上的吸附强度的方法，是将CNTs填充到不锈钢柱中制备色谱柱，通过测定挥发性有机化合物的保留时间获得挥发性有机化合物的保留体积，进而获得特定温度下挥发性有机污染物在CNTs上的KH(亨利常数)，再根据保留体积与温度间的依附性，推算不同温度下挥发性有机化合物在CNTs上KH。本发明可快速测定不同温度下挥发性有机化合物KH，过程简单，无需添加试剂及频繁更换色谱柱，减少了原料和污染。该方法还对在低温下很难直接测定KH的化合物提供了采用高温下KH数据进行外推预测的方法，对于新兴污染物在CNTs和气相间的吸附分配以及CNTs作为吸附剂的工程应用具有重要意义。
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